成大自动虚拟量测 提升产值

【新唐人2012年2月2日讯】(中央社记者许秩维台北2日电)成功大学研究团队研发全自动虚拟量测技术,改善零件原本只能抽测和浪费时间的问题,还可即时监测,可帮助半导体、面板和太阳能产业,每年增加2000万到3000万美元的产值。

研究团队负责人、成功大学E化制造研究中心主任郑芳田表示,为节省成本,传统的晶圆厂采取抽检方式进行品质监测,但这样不但无法进行全面控管,只要花5、6分钟生产的晶圆,还得耗费4个小时才能得出抽测结果。

郑芳田表示,团队研发的全自动虚拟量测技术,利用生产机台的参数进行虚拟量测,不只让抽检变成全检,还可进行线上和即时监测,而且只需花费几秒钟,可帮助产业每年增加2000万到3000万美元的产值。

全自动虚拟量测技术现已取得台湾、中国大陆、美国、日本和韩国等5国专利。郑芳田说,已和科技公司合作技转,未来会将技术商品化,希望能推销到全世界。

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