爱德万推数位模组SoC测试

【新唐人2012年11月29日讯】(中央社记者钟荣峰台北29日电)针对系统单晶片(SoC)高速传输介面测试，测试设备大厂爱德万测试(Advantest)推出数位模组方案。

爱德万测试表示，系统单晶片装置有各式介面高速测试需求，包括序列式、并行式及记忆介面(如PCI-Express与双倍资料传输率DDR连接)等。

为支援各种SoC介面测试，爱德万测试推出数位模组方案，资料传输率高达8 Gbps，主要功能包括时脉资料回复(CDR)、抖动注入、I/O死带消除、多重闪控操作等；模组并具备功能性测试抽象化功能，可进一步缩短周期时间并简化除错。